Aehr Test Systems āļāļāļāđāļāļ āļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢ āļāļĨāļīāļ āđāļĨāļ°āļāļģāļŦāļāđāļēāļĒāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļāļŠāļāļāđāļĨāļ°āđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāđāļāļ·āđāļāđāļāđāđāļāļāļļāļāļŠāļēāļŦāļāļĢāļĢāļĄāđāļāļĄāļīāļāļāļāļāļąāļāđāļāļāļĢāđāđāļāļāđāļĄāļĢāļīāļāļēāđāļŦāļāļ·āļ āđāļāđāļāļĩāļĒ āđāļĨāļ°āļĒāļļāđāļĢāļāđāļāđāļāļŦāļĨāļąāļ āđāļāļĒāļĄāļĩāļĢāļ°āļāļāļāļāļŠāļāļāļāļēāļĢāļŠāļąāļĄāļāļąāļŠāđāļ§āđāļāļāļĢāđāđāļāđāļĄāļĢāļđāļāđāļāļ āļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāļĢāļ°āļŦāļ§āđāļēāļāļĢāļ°āļāļāđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļ āļāļīāļāļāđāđāļāļāļĢāđāļāļāļŠāļāļ āđāļĨāļ°āļāļļāļāļāļĢāļāđāđāļŠāļĢāļīāļĄāļāļĩāđāđāļāļĩāđāļĒāļ§āļāđāļāļ āļāļĢāļīāļĐāļąāļāļāļģāđāļŠāļāļāļāļĢāļ°āļāļđāļĨ Advanced Burn-in āđāļĨāļ° Test System āļāļāļāļĢāļ°āļāļāđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāđāļĨāļ°āļāļāļŠāļāļāļāļīāđāļāļŠāđāļ§āļāđāļāđāļāđāļāđāļāļ āļāļķāđāļāļāļģāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāļĢāļ°āļŦāļ§āđāļēāļāđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāļāļāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļĩāđāļāļąāļāļāđāļāļ āđāļāđāļ āļāļąāļ§āļāļĢāļ°āļĄāļ§āļĨāļāļĨāļŠāļąāļāļāļēāļāļāļīāļāļīāļāļąāļĨ āđāļĄāđāļāļĢāđāļāļĢāđāļāļŠāđāļāļāļĢāđ āđāļĄāđāļāļĢāļāļāļāđāļāļĢāļĨāđāļĨāļāļĢāđ āļŦāļāđāļ§āļĒāļāļ§āļēāļĄāļāļģ āđāļĨāļ°āļĢāļ°āļāļāļāļāđāļāļĢāļ·āđāļāļ āļāļīāļāļĢāļ§āļĄāļāļķāļāļāļēāļĢāļāļ§āļāļāļļāļĄāļāļļāļāļŦāļ āļđāļĄāļīāļŠāđāļ§āļāļāļļāļāļāļĨāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļĨāļāļāļīāļāļāļąāđāļāļŠāļđāļāļāļģāļĨāļąāļāļŠāļđāļ āļāļāļāļāļēāļāļāļĩāđāļĒāļąāļāļĄāļĩāļĢāļ°āļāļ FOX āļāļĩāđāđāļāđāļāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāđāļāļāļāļāļēāļāđāļĨāļ°āļĢāļ°āļāļāđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāļāļĩāđāļāļāļāđāļāļāļĄāļēāđāļāļ·āđāļāļāļīāļāļāđāļāļāļąāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļāđāļ§āđāļāļāļĢāđāļŦāļĢāļ·āļāđāļāļāļāļāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļĢāđāļāļĄāļāļąāļ āļāļāļāđāļāļāđāļāļāļĢāđ WaferPak āļāļĩāđāļĄāļĩāļāļēāļĢāđāļāđāļāļĢāļāđāļ§āđāļāļāļĢāđāđāļāļāđāļāđāļĄāļŠāļģāļŦāļĢāļąāļāđāļāđāđāļāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāđāļ§āđāļāļāļĢāđāđāļāļĢāļ°āļāļ FOX āļāļąāļ§āļāļē DiePak āđāļāđāļāđāļāđāļāđāļāļāđāļāļāļāļąāđāļ§āļāļĢāļēāļ§āđāļĨāļ°āđāļāļāđāļāđāļāđāļģāđāļāđāļāļĩāđāļāđāļ§āļĒāđāļŦāđāļāļđāđāļāļĨāļīāļāļ§āļāļāļĢāļĢāļ§āļĄ (IC) āļāļģāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāđāļĨāļ°āđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāļāļāļāđāļĄāđāļāļīāļĄāļāđāđāļāļĨāļ·āļāļĒāđāļāļĩāđāļĒāļ§āļŦāļĢāļ·āļāđāļĄāļāļđāļĨ multi-IC āļāļāļēāļāđāļĨāđāļāļĄāļēāļ āđāļĨāļ°āļāļīāļāļāđāđāļāļāļĢāđāļāļāļŠāļāļāļāļĩāđāļĒāļķāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļĩāđāļāļĒāļđāđāļĢāļ°āļŦāļ§āđāļēāļāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāļŦāļĢāļ·āļāđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāđāļĨāļ°āđāļāļ·āđāļāļĄāļāđāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļĩāđāļāļāļŠāļāļāļāļēāļāđāļāļāđāļēāđāļāđāļēāļāļąāļāļĢāļ°āļāļāļāļīāđāļĨāđāļāļāļĢāļāļāļīāļāļŠāđ āļāļāļāļāļēāļāļāļĩāđ āļāļĢāļīāļĐāļąāļāļĒāļąāļāļāļģāđāļŠāļāļ WaferPak Aligner āļāļķāđāļāļāļģāđāļāļīāļāļāļēāļĢāļāļąāļāļāļģāđāļŦāļāđāļāđāļ§āđāļāļāļĢāđāļāļāļāļĨāļđāļāļāđāļēāļāļąāļāļāļāļāđāļāļāđāļāļāļĢāđ WaferPak āđāļāļĒāļāļąāļāđāļāļĄāļąāļāļī āđāļĨāļ° DiePak Loader āļāļĩāđāļāļģāļāļēāļĢāđāļŦāļĨāļāđāļĄāļāļđāļĨāļāļāļāļĨāļđāļāļāđāļēāđāļāļĒāļąāļāļāļđāđāđāļŦāđāļāļĢāļīāļāļēāļĢ DiePak āđāļāļĒāļāļąāļāđāļāļĄāļąāļāļī āļāļāļāļāļēāļāļāļĩāđ Aehr Test Systems āļĒāļąāļāļĄāļĩāđāļāļĢāđāļāļĢāļĄāļāļēāļĢāļāļĢāļīāļāļēāļĢāļĨāļđāļāļāđāļēāđāļĨāļ°āļāļēāļĢāļŠāļāļąāļāļŠāļāļļāļ āļĢāļ§āļĄāļāļķāļāļāļēāļĢāļāļīāļāļāļąāđāļāļĢāļ°āļāļ āļāļēāļĢāļāđāļāļĄāđāļāļĄāļĢāļ°āļāļ āļāļēāļĢāļŠāļāļąāļāļŠāļāļļāļāļāđāļēāļāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄāđāļāļāļāļĨāļīāđāļāļāļąāļ āļŠāļīāļāļāđāļēāļāļāļāļĨāļąāļāļāļ°āđāļŦāļĨāđ āļāļēāļĢāļāļķāļāļāļāļĢāļĄāļĨāļđāļāļāđāļē āđāļĨāļ°āļāļĢāļīāļāļēāļĢāļāđāļēāļāđāļāļāļŠāļēāļĢ āļāļĢāļīāļĐāļąāļāļāļģāļāļēāļĢāļāļĨāļēāļāđāļĨāļ°āļāļģāļŦāļāđāļēāļĒāļāļĨāļīāļāļ āļąāļāļāđāđāļŦāđāļāļąāļāļāļđāđāļāļĨāļīāļāđāļāļĄāļīāļāļāļāļāļąāļāđāļāļāļĢāđ āļāđāļēāļāļāļĢāļ°āļāļāļāļāļēāļĄāļŠāļąāļāļāļēāđāļāļĄāļīāļāļāļāļāļąāļāđāļāļāļĢāđ āļāļđāđāļāļĨāļīāļāļāļļāļāļāļĢāļāđāļāļīāđāļĨāđāļāļāļĢāļāļāļīāļāļŠāđ āđāļĨāļ°āļāļĢāļīāļĐāļąāļāļāļđāđāđāļŦāđāļāļĢāļīāļāļēāļĢāļāļāļŠāļāļāđāļĨāļ°āđāļāļīāļĢāđāļāļāļīāļāļāđāļēāļāđāļāļĢāļ·āļāļāđāļēāļĒāļāļđāđāļāļąāļāļāļģāļŦāļāđāļēāļĒāđāļĨāļ°āļāļąāļ§āđāļāļāļāđāļēāļĒāļāļēāļĒ Aehr Test Systems āļāđāļāļāļąāđāļāļāļķāđāļāđāļĄāļ·āđāļāļāļĩ āļ.āļĻ. 2520 āđāļĨāļ°āļĄāļĩāļŠāļģāļāļąāļāļāļēāļāđāļŦāļāđāđāļāđāļĄāļ·āļāļāļāļĢāļĩāļĄāļāļāļāđ āļĢāļąāļāđāļāļĨāļīāļāļāļĢāđāđāļāļĩāļĒ